Карта сайта В избранное
О центре Оборудование Документы Публикации Контакты
 
     
К списку оборудования

Спектрометр рентгеновский кристалл-дифракционный Спектроскан Макс-GV

Производитель: ООО «НПО «Спектрон», г. Санкт-Петербург, Россия

Область применения и объекты исследования:Спектрометр Спектроскан Макс GV предназначен для определения содержания химических элементов в различных веществах, находящихся в твердом, порошкообразном или растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности и осажденных на фильтры. Спектрометр Спектроскан Макс GV является прибором неразрушающего пробу контроля и может применяться в различных отраслях науки и техники, промышленности, хозяйственной деятельности, медицины для анализа элементного состава вещества, а также для экологического контроля окружающей среды. Спектрометр Спектроскан Макс GV утвержден в качестве средства измерений Госстандартом Российской федерации и внесен в Государственный реестр средств измерений РФ и других государств СНГ.

Требования к образцам: Типы анализируемых образцов разнообразные – жидкие, твердые, порошки, фильтры, пленки.

Контактное лицо: Алексеев Андрей Олегович – зав.лаб. геохимии и минералогии почв, к.б.н.,
тел. 730441,
alekseev@issp.serpukhov.su

Прибор находится: Пущино, ул. Институтская, 2, ИФХиБПП РАН, комн. 103(ск)

Отправить сообщение

закрыть
Ваше имя:
e-mail:
Текст сообщения
Технические характеристики:
Диапазон определяемых элементов - от 11Na до 94Pu. Пределы обнаружения, L для лёгкой матрицы составляют (экспозиция - 100 сек) для Na — 1x10-1 %, Mg, — 1x10-2 %, Al — 1x10-3 %, Si — 5x10-4 %, P — 5x10-4 %, Cd, Pb — 5x10-4 % S, Ti, V, Cr — 1x10-4 , Co, Ni — 5x10-5 %. Диапазон определяемых содержаний - от 3L до 100% без специальной пробоподготовки и от 0,005 L со специальной пробоподготовкой (концентрированием) пробы. Время количественного анализа пробы - от 3 минут, время одного элементоопределения - от 10 до 100 секунд. Способ выделения линий спектра - дифракция на кристалле с последующим сканированием спектра. Рентгенооптическая схема - по Иоганссону. Энергетическое разрешение на линии SiKa составляет 9 эВ, FeKa – 60 эВ. Собственная аппаратурная погрешность - 0,5 %.
Отзывы: Отзывы отсутствуют
Добавить отзыв
Ваше имя:
Отзыв:
 
©2009-2010 ПНЦ РАН